محمد ضیابری سیدین روشی که هم اکنون برای اندازه گیری قطر نانوالیاف استفاده می‌شود را  روشی دستی دانست و گفت: این روش بسیار طولانی و خسته کننده و تعداد اندازه گیریها در این روش محدود است از این رو سعی کردیم با بهره گیری از ابزار پردازش تصویر، روشی برای اندازه گیری قطر نانو الیاف ارائه دهیم که در عین خودکار بودن از سرعت و دقت بالایی برخوردار باشد.

وی با بیان اینکه در این پژوهش، روش پویش مستقیم را بررسی کردیم، افزود: گام اول، تهیه یک تصویر دوتایی (سیاه یا سفید) به کمک SEM (یا AFM) از لایه نانوالیاف است. سپس قطر الیاف از روی دو پویش (افقی و عمودی) به دست می‌آید. در هر پویش پس از رسیدن به لیف شمارش شروع و با رسیدن به زمینه خاتمه می یابد.

ضیابری ادامه داد: با داشتن تعداد پیکسلها در هر پویش می توان قطر لیف را با استفاده از محاسبات ساده هندسی به دست آورد اما در نقاط تلاقی نانو الیاف اندازه گیری قطر با مشکل مواجه می‌شود که برای حل این مسئله فرآیند شناسایی الیاف مورد استفاده قرار ‌گرفت به گونه ای که ابتدا نواحی بین الیاف شماره گذاری و سپس در هر مرحله دو ناحیه انتخاب می شود و در صورت وجود لیف با استفاده از عملیات شکل شناسی شناسایی می‌شوند. قطر نانوالیاف با تکرار فرآیند شناسایی و پویش مستقیم به دست خواهد آمد.

پژوهشگر این طرح با بیان محدودیتهای این روش اظهار داشت: این محدودیتها سبب شد که روش تبدیل فاصله را با جدیت بیشتری پیگیری و سعی کنیم به گونه ای از نقاط تلاقی رهایی پیدا کنیم. این امر با بررسی روشهای مختلف به نتیجه مطلوب رسید.

وی خاطرنشان کرد: از طرفی با توجه به فقدان یک روش صحیح برای اندازه گیری قطر نانو الیاف و عدم امکان تهیه نانو الیاف با توزیع قطر مشخص به روش الکتروریسی برای ارزیابی روش خود ناگزیر به استفاده از یک روش شبیه سازی لایه نانو الیاف شده که در نهایت موفق به شبیه سازی لایه های مختلف نانو الیاف با توزیع قطر مشخص شدیم. در نتیجه از آن برای ارزیابی روش خود استفاده کردیم.

به گفته این محقق در روش تبدیل فاصله پس از تهیه تصویر دوتایی از ریزنگار لایه نانو الیاف اسکلت تصویر با استفاده از فرآیند استخوان سازی و نقشه فاصله با اعمال روش تبدیل فاصله به دست ‌آمد. سپس با توجه به اینکه در نقاط تلاقی الیاف با یکدیگر اسکلت تصویر و نقشه فاصله معیوب هستند باید به طریقی این نقاط را از اندازه گیریها حذف کرد. به همین دلیل با استفاده از یک عملیات همسایگی نقاط تلاقی را یافته و از تصویر اسکلت حذف کردیم. در نهایت از مقدار نقاط متناظر با اسکلت در نقشه فاصله برای اندازه گیری قطر نانو الیاف استفاده شد و به این ترتیب توزیع قطر در یک لایه نانو الیاف به دست ‌آمد.

ضیابری تاکید کرد: جزئیات این پژوهش در مجله Nanoscale Research Letters (جلد2، صفحات600-597، سال2007) و مجله Korean Journal of Chemical Engineering (جلد25، صفحات918-905، سال2008) و (جلد 25، صفحات922-919، سال2008) منتشر شده است.